- Les tests d’analyse d’encre par AFM ont été menés à partir d’une palette de référence. Les mesures et les conclusions émanent de Mme Christina Villeneuve-Faure, maître de conférences HDR à l’université de Toulouse Paul Sabatier.
Compte rendu des mesures de topographie – palette de référence
1. Mesure de topographie en Peak-Force Quantitative NanoMechanical (PF-QNM)
Mesure impossible… le système se met systématiquement en sécurité.
Pas de cartographie des propriétés mécaniques (adhésion, déformation).
2. Mesure de topographie en tapping
a. Conditions expérimentales
Mesures sur des surfaces de 5μmx5μm, 20μmx20μm et 50μmx50μm => impossible sur 50μmx50μm et pour la moitié des échantillons sur 20μmx20μm.
Nous nous sommes concentrés sur les cartographies 5μmx5μm pour déterminer :
– Rugosité moyenne Ra et rugosité quadratique Rq. Plus l’eccart est important plus la surface est hétérogène.
- Skewness (asymétrie du profil autour de la valeur moyenne) : Sk<0 (vallées
– Le diagramme d’occurrence qui permet de déterminer Skewness Sk et Kurtosis Ku. prédominent) et Sk>0 (pics prédominent)
- Kurtosis (distribution de pics sur une surface) : Ku=3 (surface aléatoire), Ku<3 (surface avec de bumps), Ku>3 (surface avec des pics)
 |  |  |
 |  |  |
